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    Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350
    發(fā)布者:tjrlgd  發(fā)布時(shí)間:2020-11-13 16:26:01

    天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

    產(chǎn)品型號(hào):Crossbeam 350

    關(guān)鍵字:Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

    關(guān)鍵字描述:

    產(chǎn)品介紹:

    無需耗時(shí)搜索ROI即可開始工作流程

    使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標(biāo)本

    集成的用戶界面使您可以輕松導(dǎo)航到ROI

    受益于SEM中大而無失真的視野

    銅樣品的薄片準(zhǔn)備好提升

    通過簡單的三步流程開始準(zhǔn)備:ASP

    定義配方包括漂移校正,沉積和粗銑和精磨

    FIB色譜柱的離子光學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)工作流程的高通量

    復(fù)制配方并根據(jù)需要重復(fù)以開始批量準(zhǔn)備

    蔡司CrossbeamTEM薄片制備工作流程的一部分

    帶上顯微操縱器并將薄片連接到其尖端

    從散裝中切出薄片

    然后,薄片準(zhǔn)備好提升并且可以轉(zhuǎn)移到TEM網(wǎng)格

    使用Gemini電子光學(xué)從高分辨率SEM圖像中提取真實(shí)樣本信息。Ion-sculptor FIB色譜柱引入了一種新的FIB處理方式:通過大限度地減少樣品損傷,您可以大限度地提高樣品質(zhì)量并同時(shí)更快地進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。在制備TEM樣品時(shí),使用離子雕刻機(jī)FIB的低電壓功能:獲得超薄樣品,同時(shí)保持 少量的非晶化損傷。在ZEISS Crossbeam系列中,要么利用Crossbeam 350的可變壓力功能或者使用Crossbeam 550進(jìn)行苛刻的表征。

    參數(shù):

    SEM:Gemini I光學(xué),VP選項(xiàng)

    腔室尺寸和端口標(biāo)準(zhǔn):帶18個(gè)可配置端口

    顯微鏡臺(tái):100毫米行程范圍x / y

    示例選項(xiàng):Inlens SEInlens EsB 用于同時(shí)成像SE / EsB 成像

    VPSE探測(cè)器

    可變壓力功能(可選)

    瑞利光電擁有一支年輕的團(tuán)隊(duì),相關(guān)人員知識(shí)經(jīng)驗(yàn)豐富,熟悉國際貨幣度量衡,商業(yè)習(xí)慣,貨物運(yùn)輸與保險(xiǎn)等政策,在處理貿(mào)易接洽等問題上,能夠采用合理的處理方式,根據(jù)國內(nèi)外相關(guān)法律法規(guī)、國際市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)現(xiàn)狀和發(fā)展態(tài)勢(shì)來服務(wù)客戶。


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