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主板SI USB3.0，3.1Clock時序測試服務電磁兼容性高低溫可靠性實驗室

一. 信號完整性

目的

信號完整性測試，是作為提高產(chǎn)品電氣特性方面性能的參考依據(jù)。主要對主板上的COCLK,SPI, MDIO, PCIe, DDR3，RGMII，SFP ，QSFP，I2C等項目進行測試分析。

三、PCIE 3.0的測試

首先要說明的一點是，由于PCIE 3代目前只頒布了Base的規(guī)范（即芯片規(guī)范），但CEM規(guī)范（即主板和插卡的規(guī)范）和測試規(guī)范還沒有正式發(fā)布，所以下面介紹的方法是基于目前的通用做法，以后隨著規(guī)范的正式發(fā)布，具體測試方法可能還有變化。

數(shù)據(jù)眼圖（Data Eye）使用偽隨機碼型（PRBS）由恢復的時鐘作為參考來形成數(shù)據(jù)信號的眼圖。必須捕獲10萬或1百萬個波形。HW CRUTest FixtureData Lane(0, 1 or 2)Raw Clock眼圖可以定義為:1) 所有位累積的眼圖2) 按位累積的眼圖—例如，數(shù)據(jù)中的第4位0123456789Pixel Ck PeriodCk to Data DelayClockInserted edges

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