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鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。

ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀采用下照式設(shè)計(jì)，搭載 的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，都能夠快速 無(wú)損檢測(cè)，可輕松應(yīng)對(duì)鍍層領(lǐng)域的表面處理的過(guò)程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)中的檢測(cè)和篩檢難題，被 應(yīng)用于珠寶首飾、電鍍行業(yè)、汽車(chē)行業(yè)、五金衛(wèi)浴、航空航天、電子半導(dǎo)體等多種領(lǐng)域。

使用

可選配微焦X射線(xiàn)裝置

測(cè)試各類(lèi)極微小的樣品，即使檢測(cè)面積微小的樣品也可輕松 檢測(cè)。

多準(zhǔn)直器/濾光片

多濾光片和多準(zhǔn)直器可選或軟件自動(dòng)切換組合，使得儀器的多功能性得以 提升，以靈活應(yīng)對(duì)不同尺寸的零件。

下照式設(shè)計(jì)

從下往上測(cè)量，無(wú)需額外對(duì)焦，可輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層樣品的高效測(cè)量。

無(wú)損檢測(cè)

X射線(xiàn)熒光是無(wú)損分析過(guò)程，不留任何痕跡，即使是對(duì)敏感性材料，其測(cè)量也是非常安全的。

變焦裝置

可對(duì)各種異形凹槽樣品進(jìn)行檢測(cè)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0~30 mm。

手調(diào)X-Y平臺(tái)

搭載 手調(diào)X-Y平臺(tái)，精度可達(dá)25μm，使微區(qū)測(cè)量更便捷。

應(yīng)用場(chǎng)景

緊固件

五金小零件

珠寶首飾

汽車(chē)零部件