| OLYMPUS奧林巴斯的OmniScanX3相控陣探傷儀 |
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價格：30.00 元(人民幣) | 產地：上海上海 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：上海上海 | |
| 上架時間：2023-11-24 21:05:43 | 瀏覽量：15 | |
上海申蒙檢測技術有限公司
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OLYMPUS奧林巴斯的OmniScan X3相控陣探傷儀的全聚焦方式（TFM） 顯示超微細節(jié)的TFM （全聚焦方式）圖像? OmniScan X3探傷儀所提供的實時 全聚焦方式（TFM）包絡處理功能， 高達1024 × 1024的網格分辨率， 以及色彩鮮亮的顯示屏，可使其全聚 焦方式（TFM）圖像呈現出極為清晰 的細節(jié)。得益于較高的分辨率，圖中 顯示的缺陷格外鮮明清晰。? 提前確認覆蓋區(qū)域? 聲學影響圖（AIM）工具可以基于用 戶具體的模式、設置和模擬反射體， 即刻提供靈敏度的可視化模型。 這個工具可以為用戶顯示聲波組的效 果（在TFM模式下），使用戶看到靈 敏度消失的位置，并對掃查計劃進行 相應的調整 探測到早期的高溫氫致 （HTHA）缺陷? 儀器的高級成像功能轉化為可以更好、更精細地探測到 高溫氫致（HTHA）缺陷的性能，從而可使用戶在損傷形 成早期這個重要的時期探測到缺陷。 便于解讀缺陷和定量缺陷? 可以多顯示4個不同角度的TFM模式圖像。這種圖像信 息可使用戶更加充滿信心地識別缺陷和確定缺陷的深度。 OLYMPUS奧林巴斯的OmniScan X3相控陣探傷儀技術參數：
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