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?DDR3測試 測試流程: 1.找準(zhǔn)存儲(chǔ)模塊的DQ_n、DQS_n、AD_n、RAS、/CSn、Wen測試點(diǎn); 2.將四根Probe Cable連接在示波器信號(hào)采集口上,設(shè)置其Delay值為0; 3.將Probe Cable的探針接到測試點(diǎn)上; 4.在示波器設(shè)置中選擇QualiPHY,并根據(jù)實(shí)際測試項(xiàng)目進(jìn)行設(shè)置; 5.使DUT正常工作,使用電腦通過console cable使得DUT進(jìn)行數(shù)據(jù)通信以保證DDR模塊有數(shù)據(jù)傳輸; 6.運(yùn)行QualiPHY,獲取測試數(shù)據(jù)。 測試方式示意圖: 下圖是PCIE3.0協(xié)議分析儀U4301A,它是一塊采用了Agilent AXIe架構(gòu)的插卡,可以插在AXIe的機(jī)箱里,通過來捕獲高速的PCIE 3.0信號(hào),并通過外部PC控制顯示協(xié)議分析的結(jié)果。 AXIe是Agilent推出的高速模塊化儀器的架構(gòu),除了能給高性能的模塊提供穩(wěn)定可靠的機(jī)箱環(huán)境以外,還提供了背板的高速數(shù)據(jù)交換能力,主要用于需要大量數(shù)據(jù)處理的高性能板卡。除了PCIE3.0的協(xié)議分析儀以外,Agilent在這個(gè)平臺(tái)上還推出了業(yè)內(nèi)性能的U4154A高速邏輯分析儀模塊(可以用于DDR3的協(xié)議測試,支持高達(dá)4Gb/s的數(shù)據(jù)速率)、U4998A高速HDMI協(xié)議分析儀(支持HDMI1.4的測試)、M8190A高性能任意波發(fā)生器(12G/s采樣率@12位分辨率或8G/s采樣率@14位分辨率)等,因此用戶在這個(gè)統(tǒng)一的平臺(tái)上可以完成未來的很多高速總線 ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() 高低溫測試服務(wù)對(duì)外實(shí)驗(yàn)室 |
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