OLYMPUS奧林巴斯的OmniScanX3相控陣探傷儀 |
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價(jià)格:30.00 元(人民幣) | 產(chǎn)地:上海上海 |
最少起訂量:1 | 發(fā)貨地:上海上海 | |
上架時(shí)間:2024-01-10 00:56:13 | 瀏覽量:19 | |
上海申蒙檢測(cè)技術(shù)有限公司
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經(jīng)營(yíng)模式:貿(mào)易公司 | 公司類型:個(gè)體工商戶 | |
所屬行業(yè):綜合 | 主要客戶: | |
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OLYMPUS奧林巴斯的OmniScan X3相控陣探傷儀的全聚焦方式(TFM) 顯示超微細(xì)節(jié)的TFM (全聚焦方式)圖像? OmniScan X3探傷儀所提供的實(shí)時(shí) 全聚焦方式(TFM)包絡(luò)處理功能, 高達(dá)1024 × 1024的網(wǎng)格分辨率, 以及色彩鮮亮的顯示屏,可使其全聚 焦方式(TFM)圖像呈現(xiàn)出極為清晰 的細(xì)節(jié)。得益于較高的分辨率,圖中 顯示的缺陷格外鮮明清晰。? 提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域? 聲學(xué)影響圖(AIM)工具可以基于用 戶具體的模式、設(shè)置和模擬反射體, 即刻提供靈敏度的可視化模型。 這個(gè)工具可以為用戶顯示聲波組的效 果(在TFM模式下),使用戶看到靈 敏度消失的位置,并對(duì)掃查計(jì)劃進(jìn)行 相應(yīng)的調(diào)整 探測(cè)到早期的高溫氫致 (HTHA)缺陷? 儀器的高級(jí)成像功能轉(zhuǎn)化為可以更好、更精細(xì)地探測(cè)到 高溫氫致(HTHA)缺陷的性能,從而可使用戶在損傷形 成早期這個(gè)重要的時(shí)期探測(cè)到缺陷。 便于解讀缺陷和定量缺陷? 可以多顯示4個(gè)不同角度的TFM模式圖像。這種圖像信 息可使用戶更加充滿信心地識(shí)別缺陷和確定缺陷的深度。 OLYMPUS奧林巴斯的OmniScan X3相控陣探傷儀技術(shù)參數(shù):
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