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電磁兼容(Electro Magnetic Compatibility,簡(jiǎn)稱 EMC)是電工、電子產(chǎn)品重要的一項(xiàng)質(zhì)量指標(biāo)。可以認(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量主要由質(zhì)量規(guī)范與技術(shù)指標(biāo)兩大內(nèi)容構(gòu)成。前者涉及通用規(guī)范,即國(guó)際上 IEC,國(guó)內(nèi)由國(guó)家制訂的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn);后者是產(chǎn)品功能的規(guī)定及其技術(shù)要求。電磁兼容與安全要求是基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)。現(xiàn)在 EMC 已從基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)、族標(biāo)準(zhǔn)、一直到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),形成完備的體系。 靜電放電測(cè)試、浪涌測(cè)試、EFT測(cè)試都屬于EMS(電磁敏感性)試驗(yàn),主要檢測(cè)電子設(shè)備受到外界的電磁能量,造成自身性能下降的容易程度。 我們?nèi)绾闻袛郋MS試驗(yàn)結(jié)果的好壞呢? 對(duì)于 EMS(電磁敏感性)試驗(yàn),其性能判斷依據(jù)可分為四個(gè)等級(jí): A 級(jí):試驗(yàn)中性能指標(biāo)正常; B 級(jí):試驗(yàn)中性能暫時(shí)降低,功能不喪失,試驗(yàn)后能自行恢復(fù); C 級(jí):功能允許喪失,但能自恢復(fù),或操作者干預(yù)后能恢復(fù); R 級(jí):除保護(hù)元件外,不允許出現(xiàn)因設(shè)備(元件)或軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。 EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容? Radiated Emission -輻射擾測(cè)試 Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試 Harmonic-諧波電流擾測(cè)試 Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試 |
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