漆膜測(cè)厚儀KY-8808說(shuō)明書(shū) 漆膜測(cè)厚儀廠家
一、產(chǎn)品介紹
本儀器采用磁性、渦流兩種測(cè)厚方法根據(jù)烤漆原理，采用進(jìn)口機(jī)芯，是國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的烤漆漆膜側(cè)檢測(cè)儀器。本儀器廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)汽車工業(yè)二手車評(píng)估、汽車商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
產(chǎn)品規(guī)格：
●測(cè)量范圍：0-1900μm/0-74.8㏕
●分辨率：0.1μm/1μm/0.1㏕
●測(cè)量誤差：±（3%H+1μm）
●基底最小直徑：φ12mm
●基底最小厚度：0.5mm
●凸面基底最小曲率半徑：2mm
●凹面基底最小曲率半徑：11mm
●供電：2×1.5V AAA電池
●工作溫度范圍：0-40℃
●工作濕度范圍：10-95%RH
●外形尺寸：61.98×30.57×107.99mm
●重量：63.98g（不含電池）
漆膜測(cè)厚儀KY-8808說(shuō)明書(shū) 漆膜測(cè)厚儀廠家
二、產(chǎn)品功能
1.磁性金屬基底表面非磁性漆膜厚度測(cè)量。
2.具有單次、連續(xù)、差值三種測(cè)量方式。
3.具有零點(diǎn)、二點(diǎn)、基本三種校準(zhǔn)功能。
4.公英制單位選擇。
5.LCD背光功能。
6.自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
三、按鍵功能
1.ZERO鍵：開(kāi)關(guān)機(jī)、零點(diǎn)校準(zhǔn)及背光控制鍵。
2.MODE鍵：測(cè)量模式轉(zhuǎn)換及校準(zhǔn)數(shù)據(jù)增加鍵。
3.UNIT鍵：測(cè)量單位轉(zhuǎn)換及校準(zhǔn)數(shù)據(jù)減少鍵。
漆膜測(cè)厚儀KY-8808說(shuō)明書(shū) 漆膜測(cè)厚儀廠家
四、漆膜厚度測(cè)量
1.在空中按開(kāi)關(guān)鍵開(kāi)機(jī)，LCD全屏顯示，然后聽(tīng)到BI的一聲，本機(jī)進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，每次開(kāi)機(jī)默認(rèn)為單次測(cè)量狀態(tài)。
2.將探頭輕壓到有涂層的金屬基底上，本機(jī)發(fā)出BI-BI兩聲，LCD上顯示被測(cè)涂層厚度值，同時(shí)LCD左上角顯示Fe字符。
3.按MODE鍵，可選擇測(cè)量方式，有單次測(cè)量、連續(xù)測(cè)量、差值測(cè)量三種測(cè)量方式可供選擇。
4.單次測(cè)量是指每次測(cè)量測(cè)一個(gè)數(shù)據(jù)。連續(xù)測(cè)量是指只要探頭不離開(kāi)基底面，該機(jī)一直不斷的測(cè)量。差值測(cè)量是指本次測(cè)量和上一次測(cè)量的差值。
5.按UNIT鍵，可選擇測(cè)量單位，可選μm、㏕。
6.如果在鐵基上開(kāi)機(jī)，LCD全屏顯示后，將顯示ERR，然后關(guān)機(jī)，表示開(kāi)機(jī)方式不正確。
7.LCD背光：開(kāi)機(jī)，LCD背光默認(rèn)亮，此時(shí)短按開(kāi)關(guān)機(jī)鍵，可關(guān)背光和開(kāi)背光。
五、校準(zhǔn)操作步驟
本機(jī)有三種校準(zhǔn)方式：
1.基本校準(zhǔn)：第一次使用，或者很久未使用，或者更換被測(cè)基底材料時(shí)應(yīng)進(jìn)行基底校準(zhǔn)，基本校準(zhǔn)共有7個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)，校準(zhǔn)時(shí)單位為μm。
a.準(zhǔn)備好6片標(biāo)準(zhǔn)片，厚度在45～55，95～105，220～280，450～550，900～，1050，1900～1999，單位μm。
b.先按住MODE鍵保持，再按開(kāi)機(jī)鍵，LCD全屏顯示后，然后聽(tīng)到BI的一聲，LCD顯示0.0，LCD右下角顯示C.字符，表示進(jìn)入校準(zhǔn)畫(huà)面。
c.將探頭輕壓在表面沒(méi)有涂層的鐵基上，此時(shí)LCD上顯示0.0，然后BI-BI兩聲，0.0校準(zhǔn)。
d.拿開(kāi)探頭，LCD上顯示50μm左右的數(shù)，進(jìn)行第二個(gè)數(shù)校準(zhǔn)，通過(guò)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)增加鍵或減少鍵，調(diào)整LCD上顯示的值與校準(zhǔn)片厚度一樣后，將探頭輕壓在放置校準(zhǔn)片的鐵基上，BI-BI兩聲，第二個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)已校準(zhǔn)。
e.LCD上顯示第三個(gè)數(shù)據(jù)，按前面的方法依次校準(zhǔn)，直到最后一個(gè)校準(zhǔn)片校準(zhǔn)后，LCD顯示OVER,BI-BI兩聲后關(guān)機(jī)，基本校準(zhǔn)完成。
f.基本校準(zhǔn)完成后，可以測(cè)量和被；滓粯硬牧仙贤繉拥暮穸。
2.零點(diǎn)校準(zhǔn)：
在空中開(kāi)機(jī)，然后將探頭輕壓在基底表面，短按ZERO鍵，LCD顯示0.0，完成零點(diǎn)校準(zhǔn)。
3.二點(diǎn)校準(zhǔn)：
a.先進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)
b.取一校準(zhǔn)片（如1000μm）測(cè)得值為1005μm，不松開(kāi)探頭，按校準(zhǔn)數(shù)據(jù)增加鍵或減少鍵，調(diào)至LCD顯示為1000μm，松開(kāi)探頭，完成二點(diǎn)校準(zhǔn)。
六、LCD顯示及按鍵功能
1.LCD全屏顯示：
（1）.n：未用。
（2）.Fe：鐵基符號(hào)。
（3）.SNG：?jiǎn)未螠y(cè)量。
（4）.CTN：連續(xù)測(cè)量。
（5）.DIF：差值測(cè)量。
（6）.測(cè)量數(shù)值顯示區(qū)。
（7）.電池：電池電量提示。
（8）.μm：公制單位（1mm=1000μm）。
（9）.㏕：英制單位（1㏕=0.0254mm=25.4μm）。
（10）.C.：進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)。
（11）.mm：未用。
2.部件名稱：
A.LCD顯示屏。
B.MODE：測(cè)量模式轉(zhuǎn)換鍵及校準(zhǔn)狀態(tài)增加鍵。
C.UNIT：測(cè)量單位轉(zhuǎn)換鍵及校準(zhǔn)狀態(tài)減少鍵。
D.ZERO：開(kāi)關(guān)機(jī)鍵、零點(diǎn)校準(zhǔn)及背光控制鍵。
E.測(cè)試探頭。
F.電池門(mén)。
七、其它事項(xiàng)
注意事項(xiàng)：
影響測(cè)量精度的因素及有關(guān)說(shuō)明：
a.基體金屬磁性：磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理及冷加工因素的影響，應(yīng)使用與被測(cè)件基體金屬具有相同性質(zhì)的鐵基對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆金屬進(jìn)行校準(zhǔn)。
b.基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)產(chǎn)品規(guī)格中的要求（≥0.5mm）。
c.邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近被測(cè)件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
d.曲率：被測(cè)件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
e.表面粗糙度：基底金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬鍍件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后，在校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
f.磁場(chǎng)：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
g.表面清潔度：測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
特殊說(shuō)明：
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