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\r儀器簡(jiǎn)介：
\r<\/strong> 我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來(lái)測(cè)量顆粒粒度及濃度，采用**技術(shù)---多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。
\r 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而**的多頻電聲技術(shù)則可避免這些問(wèn)題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到**分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。
\r技術(shù)參數(shù)：
\r<\/strong>1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式
\r2. 樣品無(wú)需稀釋直接測(cè)定,測(cè)量固體含量范圍:1% ～ 50%
\r3. 樣品最大測(cè)量攪拌濃度:10,000cps
\r4. 樣品測(cè)量電位范圍:+/- 300mV或以上
\r5. 聲波范圍: 500～3000m/s
\r6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動(dòng)掃描18個(gè)gap或以上
\r7. 粒徑測(cè)量: 5nm ～ 1000um
\r8. 可測(cè)量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑
\r9. 測(cè)量Zeta電位只需10ml或以下
\r10. 操作軟件功能:
\r - 需在Windows XP下操作
\r - 粒徑分布圖及累計(jì)圖
\r - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90
\r - 數(shù)據(jù)庫(kù)可在 Windows Access中由使用者自由選取
\r - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖
\r - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖
\r - 用戶(hù)定義自動(dòng)選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query
\r11.可選自動(dòng)酸堿與濃度滴定裝置
\r12.可選自動(dòng)測(cè)量粒徑及Zeta電位對(duì)pH變化
\r13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn)
\r14.可及時(shí)測(cè)量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度
\r15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng):
\r Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD ,
\r Windows XP及 Office軟件 ( or Laptop computer\r<\/p>\r\r主要特點(diǎn)：
\r<\/strong>1.能分析多種分散物的混合體
\r2.無(wú)需依賴(lài)Double Layer 模式,**地判定等電點(diǎn)
\r3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系
\r4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾
\r5.可**測(cè)量無(wú)水體系
\r6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量
\r7.樣品的**濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量
\r8.具有自動(dòng)電位滴定功能
\r突出優(yōu)勢(shì)：
\r<\/strong> 可以進(jìn)行顆粒分布、動(dòng)態(tài)遷移率、流變能力、孔徑和孔隙率、液體壓縮率、Zeta電位、雙電層厚度、電導(dǎo)率、pH和溫度以及表面電荷密度等方面的測(cè)定。
\r 同時(shí)可以處理表征原濃分散體系的分析儀器；分散體系的近過(guò)程表征；原濃液分散體系的顆粒分布和ζ電位。\r<\/p><\/div>
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