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電子元器件、材料、PCB板失效分析

失效分析是指利用電學(xué)、物理和化學(xué)等各種分析技術(shù)和手段分析產(chǎn)品失效機(jī)理和原因的過程。在查找產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、試驗、應(yīng)用等各環(huán)節(jié)產(chǎn)品故障或失效的根本原因中起到了關(guān)鍵的作用，是改進(jìn)和提高產(chǎn)品可靠性最有效的手段之一。

廣電計量檢測（GRGT）分析中心具有各種完善的失效分析技術(shù)手段，包括電學(xué)分析、無損分析、高分辨率的顯微形貌分析、物理性能分析、精準(zhǔn)的失效定位、制樣和試驗驗證等；

分析對象包括：各種元件、半導(dǎo)體分立器件、集成電路、射頻微波器件以及各種電源、光電模塊、金屬材料、高分子材料、鍍層等各門類的元器件、組件和模塊、材料。

開展失效分析的意義：

失效分析對產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義，失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個階段，涉及產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計、來料檢驗、加工組裝、測試篩選、客戶端使用等各個環(huán)節(jié)，通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現(xiàn)場失效的樣品，確認(rèn)失效模式、分析失效機(jī)理，明確失效原因，最終給出預(yù)防對策，減少或避免失效的再次發(fā)生。

產(chǎn)生的效益

提供產(chǎn)品設(shè)計和工藝改進(jìn)的依據(jù)，指引產(chǎn)品可靠性工作方向；

查明整機(jī)故障原因，有效提出并實(shí)施可靠性改進(jìn)措施；

提高產(chǎn)品成品率和使用可靠性，降低維護(hù)維修成本，提升企業(yè)品牌和競爭力；

明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方，為司法仲裁提供依據(jù)。

廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）是原國家信息產(chǎn)業(yè)部軍工電子602計量測試站，通過了國家實(shí)驗室（CNAS）、國防實(shí)驗室（DILAC）和總裝軍用實(shí)驗室認(rèn)可，獲得中國計量認(rèn)證（CMA）、食品檢驗認(rèn)證（CMAF）和農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全檢測認(rèn)證（CTAL），是二級保密單位和中國CB實(shí)驗室，并獲得眾多國際著名機(jī)構(gòu)和組織的能力認(rèn)可和授權(quán)，檢測與認(rèn)證結(jié)果得到國際公認(rèn)。

GRGT環(huán)境實(shí)驗室一直致力于產(chǎn)品研制和生產(chǎn)階段環(huán)境與可靠性試驗的研究及技術(shù)服務(wù)，從產(chǎn)品技術(shù)研發(fā)、設(shè)計、定型、樣品生產(chǎn)到量產(chǎn)質(zhì)控，提供一站式的環(huán)境與可靠性試驗解決方案，為您提高產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性、環(huán)境適應(yīng)性和安全性，縮短產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)周期，保駕護(hù)航。

   滿足IEC、ISO，GB、GJB，EIA、ASTM、IPC、ISTA、JEDEC、SAE，JIS、MIL等國際、國家及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測試要求，開展氣候環(huán)境、機(jī)械環(huán)境、生物環(huán)境、化學(xué)環(huán)境和綜合環(huán)境絕大多數(shù)項目的試驗和測試，同時可提供整車環(huán)境試驗，失效分析和元器件篩選，可靠性優(yōu)化設(shè)計與分析，可靠性試驗與評估，以及可靠性方案和整改建議等技術(shù)服務(wù)，可對試驗中的產(chǎn)品及材料進(jìn)行電學(xué)、磁學(xué)、表觀性能監(jiān)測。

失效分析業(yè)務(wù)聯(lián)系人：張海鵬（業(yè)務(wù)經(jīng)理）

186 2090-8348； 020-6628 9503。

QQ：3050677168   郵箱：zhanghp@grgtest.com