供應(yīng)集成電路芯片測(cè)試箱溫度快速變化試驗(yàn)箱 |
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一、供應(yīng)集成電路芯片測(cè)試箱溫度快速變化試驗(yàn)箱用途: 快速溫變?cè)囼?yàn)箱可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復(fù)雜的自然狀環(huán)境,適用于塑膠、電子、食品、服裝、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測(cè)。 二、 供應(yīng)集成電路芯片測(cè)試箱溫度快速變化試驗(yàn)箱特點(diǎn) 造型設(shè)計(jì):圓弧造型及表面噴涂處理,高質(zhì)感外觀,并采用平面把手,操作容易,簡(jiǎn)單便捷 大型觀察窗視野寬廣明亮:采用三層真空鍍膜視窗和飛利浦節(jié)能熒光燈,無(wú)須雨刷除霧,保持清晰的觀測(cè)效果, 可隨時(shí)觀察試品的狀況。 水電分離確保安全:加濕系統(tǒng)管路與 電源、控制器、電路板分離,可避免因管路漏水而影響電路,提高安全性。 冷凍及控制系統(tǒng)先進(jìn)可靠:原裝進(jìn)口歐美全封閉壓縮機(jī),進(jìn)口環(huán)保冷媒,原裝進(jìn)口LCD觸摸屏控制器,界面友好,操作簡(jiǎn)單易學(xué)。 ![]() |
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