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IC755CKW10CDMcpu    

.功能與參數(shù)測試 
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不 
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等. 
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
法查出它的上升與下降沿的速度. 
四.晶體振蕩器 
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 
否則只能采用代換法了. 
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電 
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出. 
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān) 
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點. 
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 
意短路. 
五.故障現(xiàn)象的分布 
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%, 
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢). 
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既 
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.  

IC755CKW10CDMcpu    

2.數(shù)據(jù)記錄功能，有助于減少故障時的維護時間和停機時間

  ZR802S轉(zhuǎn)換器可記錄長達40天的測量、報警開/關(guān)歷史、傳感器電阻趨勢圖以及其他數(shù)據(jù)。除了能夠在LCD屏幕上直接顯示日志外，還可以使用SD卡導(dǎo)出數(shù)據(jù)。如果發(fā)生故障，可以查看與主機設(shè)備數(shù)據(jù)的差異，從而確定故障是由分析儀系統(tǒng)還是集散控制系統(tǒng)(DCS)引起的。這有助于減少找出解決方案所需的維護時間和停機時間。

  3.業(yè)界首創(chuàng)的通信協(xié)議支持，滿足多種需求，并實現(xiàn)基于云的管理

  ZR802S轉(zhuǎn)換器是氧化鋯氧分析儀市場上唯一支持以下三種通信協(xié)議的產(chǎn)品：用于模擬輸出的HART7，和用于數(shù)字通信的Modbus TCP以及Modbus RTU。它還符合關(guān)于發(fā)出指示傳感器故障信號的NAMUR NE43規(guī)范，以及關(guān)于現(xiàn)場儀器自我評估功能的NAMUR NE107規(guī)范。利用ZR802S轉(zhuǎn)換器的通信功能，還可以進行基于云的管理。這不僅增加了數(shù)據(jù)分析和其他此類活動的便利性，還可以減少操作人員的數(shù)量，使其適合各種行業(yè)的客戶使用。