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2606B 高密度系統(tǒng) SourceMeter (SMU) 儀器在 1U 高的機箱中提供四條 20 瓦 SMU 通道。由于制造商需要優(yōu)化占地空間并減少測試時間和成本，2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測試設(shè)備機架的需求。此 SMU 為測試激光二極管、LED、2 和 3 端子半導體等生產(chǎn)的理想解決方案。

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 概述

將密度提高 3 倍
當生產(chǎn)測試機架空間增加且您需要盡量減少增加新測試機架的需求時，與傳統(tǒng) 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一機架區(qū)域中增加更多通道容量。

• 方便堆疊和安放
• 無需增加 1U 隔熱間距
• 相同機架空間內(nèi)的通道數(shù)提高 3 倍
• 通道數(shù)相同但占用空間減少 3 倍

兼具兩臺 2602B 的功能
在 1 U 外形中體驗相當于業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的 Keithley 2602B 系統(tǒng) SourceMeter 的先進測量完整性、同步、速度和精度。2606B 也與 2602B 使用同樣的模擬、數(shù)字 I/O 和 TSP Link 連接器，實現(xiàn)無縫遷移。

• 0.015% 基本測量精度
• 6 1/2 位分辨率
• 100nA 低電流范圍與 2pA 靈敏度
• 8 針 Phoenix 模擬和 25 針數(shù)字 I/O 連接器

系統(tǒng)性能提供的生產(chǎn)吞吐量
測試腳本處理器 (TSP?) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界性能。TSP-Link? 技術(shù)支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信
• 兼容儀器 2602B SourceMeter 的 TSP 腳本代碼
• 連接多達 32 個 TSP-Link 節(jié)點或 64 條獨立 SMU 通道
• 隨著測試要求變化輕松重新配置

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 型號

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 應(yīng)用

3D 傳感應(yīng)用的激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測試
適合激光二極管 (LD) 生產(chǎn)測試的業(yè)界直流測試系統(tǒng)，采用高速高精度 SMU 進行激光二極管模塊光電二極管電流的電流源和電壓-電流監(jiān)測。 SMU 是最經(jīng)濟實惠的 LIV 儀器，系統(tǒng)同步和吞吐量高。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 ?s 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

LED 的大批量生產(chǎn)測試
2606B SMU 是業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的儀器，用于 LED 直流檢定和生產(chǎn)測試。其可配置為源電流或電壓并結(jié)合 0.015% 基本測量精度的電壓和電流測量，滿足各種測試需求。此外，測試腳本處理器 (TSP?) 技術(shù)還具有吞吐量優(yōu)勢。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 ?s 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
• 多達 64 條通道的菊花鏈，實現(xiàn)大批量并行測試

使用多通道 SMU 儀器檢定晶體管
憑借其集成源和測量、電壓或電流、精密度和準確度，2606B 系統(tǒng) SourceMeter SMU 儀器非常適合測晶片上或包裝零件內(nèi)的晶體管，包括捕獲漏電波形系列、門限電壓、門電路漏電和跨導。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 ?s 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 精度 0.015%，6? 位分辨率
• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 附件