| 質保時間長 1756-IF8H 模塊現貨 |
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價格： 元(人民幣) | 產地：美國 |
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| 上架時間：2023-09-06 17:40:30 | 瀏覽量：40 | |
廈門盈亦自動化科技有限公司
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質保時間長 1756-IF8H 模塊現貨 1.功能測試不能代替參數測試 2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。 3. 對數字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。 4. 對于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號方案的不同的影響，是錯綜復雜的。就目前的在線測試技術，要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以，這項功能測試的結果，僅能供參考。 5. 大多數的在線測試議，在對于電路板上的各類芯片進行功能測試后，均會給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢？這就是這類測試儀的缺撼。因為在線測試時，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測試前采取不少的措施（如斷開晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測試結果有時不盡人意。 6. 了解在線測試儀的讀者，均知道有這么一句行話。“在線測試時不通過的芯片不一定是損壞的；測試通過的芯片一定是沒有損壞的。”它的解釋為，如器件受在線影響或抗干擾時，結果可能不通過，對此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進行測試時，均會得出“不通過”呢？回答確實不能肯定。筆者與同行均遇到過，明明芯片已損壞了（確切地說換上這個芯片板子就不工作了），但測試結果是通過的。解釋為這是測試儀自身工作原理（后驅動技術）所致。故此我們不能過分依賴在線測試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。 質保時間長 1756-IF8H 模塊現貨 1756-A10 1756-A13 1756-A17 1756-A4 1756-A7 1756-BA1 1756-BA2 1756-BATA 1756-BATM 1756-CFM 1756-CN2 1756-CN2R 1756-CNB 1756-CNBR 1756-CP3 1756-CPR2 1756-DH485 1756-DHRIO 1756-DNB 1756-EN2F 1756-EN2T 1756-ENBT 1756-EWEB 1756-HSC 1756-HYD02 1756-IA16 1756-IA16I 1762-IA8 1762-IF2OF2 1762-IF4 1762-IQ16 1762-IQ32T 1762-IQ8 1762-IQ8OW6 1762-IR4 1762-IT4 1762-L24AWA 1762-L24AWAR 1762-L24BWA 1762-L24BWAR 1762-L24BXB 1762-L24BXBR 1762-L40AWA 1762-L40AWAR 1762-L40BWA 1762-L40BWAR 1762-L40BXB 1762-L40BXBR 1762-OA8 1762-OB16 1762-OB32T 1762-OB8 1762-OF4 1762-OV32T 1763-L16AWA 1763-L16BBB 1763-L16BWA 1763-L16DWD 1763-MM1 1763-NC01 1766-L32AWA 1766-L32AWAA 1766-L32BWA 1766-L32BWAA 1766-L32BXB 1766-L32BXBA 1766-MM1 1768-CNB 1768-CNBR 1768-ENBT 1768-EWEB 1768-KY1 1768-L43 1768-L43S 1768-L45 1768-L45S 1768-M04SE 1771-BA 1771-CAD 1771-CAS 1771-CD 1771-CE 1771-CFM 1771-CFMK 1771-HD 1771-HDP 1771-HODS 1771-HRA 1771-HS3A 1771-HS3CR 1771-HSAR 1771-HSARS 1771-HSN 1771-HT 1771-HT3 1771-HTE 1771-HTT 1771-IA 1771-IA2 1785-L26B 1785-L40B 1785-L40C 1785-
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