POLOS 單點(diǎn)測量裝置 FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍 |
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POLOS 單點(diǎn)測量裝置 FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍
polos 單點(diǎn)測量裝置
獨(dú)特的微型化解決方案,用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進(jìn)行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。
FR-ES 370 - 1020 nm 光譜范圍
FR-ES 可用于各種不同的應(yīng)用,例如:薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等。有三種配置可供選擇:可見光/近紅外 (370 - 1020 nm)、NIR-N1 (850 - 1050 nm)、NIR (900 - 1700 nm)。 大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室 半導(dǎo)體 生命科學(xué) 聚合物和光刻膠特性 化學(xué)測量 介電特性 生物 醫(yī)學(xué) 硬化涂層, 陽極氧化, 金屬零件加工 光學(xué)鍍膜 非金屬薄膜
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